最新研究：线粒体缺陷诱发自闭症的分子机制

日前，一篇发表在国际杂志PNAS上的研究报告中，美国费城儿童医院等机构的科研人员发现，大脑细胞中线粒体的缺陷或会引发自闭症谱系障碍。

目前，多项研究揭示了成百上千种基因突变与自闭症谱系障碍发生有关，但对于这些基因突变是如何诱发自闭症的，科学家们没有达成共识。生化和生理学分析结果表明，能够产生机体大部分能量的细胞机器——线粒体的缺陷可能是原因之一，而且线粒体DNA（mtDNA）的突变可能与自闭症谱系障碍有关。

研究人员推测，如果线粒体缺陷可能会让人们患上自闭症谱系障碍，那么引入相关mtDNA突变的小鼠模型应该就会携带自闭症的内表型，并与患者机体中能观察到的可测量的特征相似；在这种模型中，与自闭症相关的特征包括行为、神经生理和生化特征等。

研究人员Douglas C. Wallace表示，自闭症谱系障碍具有高度的遗传异质性，许多此前确定的拷贝数和功能突变的缺失都会对线粒体产生影响。他们将mtDNA的ND6基因中的轻微错义突变引入到了小鼠模型机体中，小鼠随后表现出社交关系的损伤、重复性行为和焦虑症的增加，所有这些表现都是自闭症谱系障碍常见行为特征。

研究者还发现，小鼠模型脑电图（EEG）出现异常，而且出现更多的癫痫症发作表现，以及大脑特定区域线粒体功能的缺陷。目前，研究人员并未在大脑的解剖学结构中发现明显的变化。研究结果表明，线粒体的能量缺陷并不足以诱发自闭症。

研究者Wallace表示，轻度的系统性线粒体缺陷可能会诱发自闭症谱系障碍，但并不会引发明显的神经解剖学缺陷；这些突变可能会诱发组织特异性的大脑缺陷。研究人员相信，相关研究有助于开发出更好的自闭症诊断技术，开发针对线粒体功能的新型自闭症疗法。